詳細(xì)資料：

E8-PMA 貴金屬分析儀是一款高性能專業(yè)測試貴金屬的能量色散型X射線熒光光譜儀(EDXRF)，其核心光路系統(tǒng)集合國內(nèi)外幾十年EDXRF*技術(shù)，核心部件采用美國進(jìn)口，軟件算法采用美國EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測機(jī)構(gòu)報(bào)告；E8-PMA采用小光斑設(shè)計(jì)，多種工作模型供選擇，測試數(shù)據(jù)*高，穩(wěn)定性強(qiáng)。

E8-PMA 貴金屬分析儀

產(chǎn)品特點(diǎn)：

外形特點(diǎn)

● 儀器結(jié)構(gòu)采用人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，儀器兩側(cè)按cheng人手臂長度設(shè)計(jì)，方便移動(dòng)、搬運(yùn)

● 上蓋傾斜6度角，寓意對客戶的尊重

● 表面采用高檔汽車噴漆工藝，采用寶藍(lán)、雅致白搭配，藍(lán)色代表科技，白色代表圣潔，寓意對科學(xué)的敬仰

● 可視化樣品窗

輻射防護(hù) 

● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線

● 輻射標(biāo)志警示

● 迷宮式結(jié)構(gòu)，防止射線泄漏

● 安全連鎖設(shè)計(jì)；測試過程中誤打開樣品蓋時(shí)，電路0.1μS快速切斷X射線

● 儀器經(jīng)第三方檢測，X射線劑量率*符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》

硬件技術(shù)

● 超短光路設(shè)計(jì)：提高樣品分析效率，降低光管功率，延長儀器使用壽命

● 模塊化準(zhǔn)直器，根據(jù)分析元素，配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器，從而降低準(zhǔn)直器對分析元素的影響，提高元素分辨率

● 空氣動(dòng)力學(xué)設(shè)計(jì)，加速光管冷卻，有效降低儀器內(nèi)部溫度；靜音設(shè)計(jì)

● 電路系統(tǒng)符合EMC、FCC測試標(biāo)準(zhǔn)

● 技術(shù)快拆樣品盤，更換薄膜更方便

軟件技術(shù)

● 分析元素：Na~U之間元素

● 分析時(shí)間：180秒

● 軟件界面簡潔，模塊化設(shè)計(jì)，功能清晰，易操作

● HeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有數(shù)據(jù)一鍵備份，一鍵還原、一鍵清理功能保護(hù)用戶數(shù)據(jù)安全

● HeLeeX ED Workstation V3.0根據(jù)不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測試精準(zhǔn)度

● HeLeeX ED Workstation V3.0配備開放式分析模型功能，客戶可自行建立自己的工作模型

硬件配置：

探測器

● 類型：X123探測器（采用*高性能電致冷半導(dǎo)體探測器）

● Be窗厚度：1mil

● 晶體面積：25mm2

● zuijia分辨率：145eV

● 信號(hào)處理系統(tǒng)DP5

X射線管

● 電    壓 ：0~50kV

● zui大電流 ：2.0mA

● zui大功率 ：50W

● 靶    材 ：Mo

● Be窗厚度 ：0.2mm

● 使用壽命 ：大于2萬小時(shí)

高壓電源

● 輸出電壓：0~50kV

● 燈絲電流：0~2mA

● zui大功率：50W

● 紋波系數(shù)：0.1%（p-p 8小時(shí)穩(wěn)定性：0.05%

攝像頭

● 微焦距

● 500萬像素

準(zhǔn)直器、濾光片

● 快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng)

● 多種材質(zhì)準(zhǔn)直器

● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可選

● 多種濾光片、準(zhǔn)直器組合，軟件自動(dòng)切換

其他配件

●進(jìn)口高性能開關(guān)電源

●進(jìn)口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇

產(chǎn)品規(guī)格：

外形尺寸：380 mm x 510mm x 365 mm （長x寬x高）

樣品倉尺寸：360mm×330 mm ×50 mm （長x寬x高）

 儀器重量：33.5kg

 供電電源：AC220V/ 50Hz

 zui大功率：330W

 工作溫度：15-30℃

 相對濕度：≤85%，不結(jié)露

應(yīng)用領(lǐng)域：

貴金屬中金銀銅含量檢測、貴金屬純度檢測、貴金屬回收等領(lǐng)域

●貴金屬中有害元素檢測